Luna T-Ray® 5000 SPG560n 单点测厚仪

产品概述

T-Ray® 5000 SPG 单点厚度测量仪只需按下按钮即可直接测量多层物体的厚度。该测量工具具有模块化特性，允许使用直线或直角测量探头。虽然测量本质上是非接触式的，但在手持使用时，测量探头可帮助用户将物体定位在太赫兹光束的焦点处。易用的触摸屏显示器允许选择测量配置和操作模式。

系统兼容性与性能

SPG560n 与任何智能 T-Ray® 5000 太赫兹控制单元 (TCU) 兼容。TCU56nm 使用 VGA 和 USB 端口，可根据需要连接外部显示器和键盘。控制器包含高性能太赫兹系统所需的短脉冲激光器、时间延迟导轨、数据采集电子设备和高速处理器。凭借10ms 或 1ms的波形采集时间，可以快速可靠地进行层厚测量。

技术优势

• 采用脉冲飞行时间 (ToF)技术进行测量。
• 对环境变化和材料变异具有更高的不敏感性，避免了由此导致的校准误差。
• 有效减少操作人员不一致性带来的影响，确保测量结果的准确性。