PTW microSilicon X 屏蔽型硅探测器

产品概述

得益于其全新开发的屏蔽技术，microSilicon X 完美适用于直至大射野尺寸的光子场测量。凭借其卓越的空间分辨率，即使是在半影区（penumbra region），也能非常**地测量束流剖面。

核心优势

• 改进的能量响应：使用户能够**准确且独立于射野大小的百分比深度剂量（PDD）测量。
• 创新设计：新设计实现了较小的水等效窗厚度，这对输出因子的测量具有积极影响。