HI-Q SFP FCM-11 表面污染监测仪
品牌: HI-Q
型号: SFP
HI-Q FCM-11 表面污染监测仪配备 SFP 系列智能探测探头，采用闪烁探测器技术，可**测量工作人员、工作服及设备的 α、β、γ 表面放射性污染，标准探测面积达 100 平方厘米，支持双荧光体 α/β 区分鉴别。
产品详情
产品概述
HI-Q FCM-11 表面污染监测仪专用于测量工作人员、工作服及设备的表面污染水平。该设备采用闪烁探测器，能够精确测量 α、β 和 γ 射线的表面放射性活度，广泛应用于核工业、辐射防护及实验室安全检测等场景。
SFP 系列智能探测探头
SFP 系列智能检测探头专用于表面污染检测，标准有效探测面积为 15.5 平方英寸（100 平方厘米），可选配双荧光体配置，实现 α 射线与 β 射线放射性活度的有效区分与鉴别。
探测效率
- α 射线：探测效率高达 44%（参考核素 241Am）
- β 射线：探测效率高达 51%（参考核素 36Cl）
产品特点
- 采用闪烁探测器技术，实现 α、β、γ 多射线类型检测
- SFP 系列智能探头，大面积高效探测
- 双荧光体可选，支持 α/β 活度区分鉴别
- 适用于人员、服装及设备的表面污染快速筛查
