HI-Q MK-30P 样品分析系统
品牌: HI-Q
型号: MK- 30P
HI-Q MK-30P 样品分析系统由屏蔽室与PC端组成，专用于擦拭、蒸发样品及空气过滤器的放射性测量，支持α、β、γ等多种探测器，测量皿直径**大可达50mm。
产品详情
产品描述
HI-Q MK-30P 样品分析系统（由MK-30P屏蔽室和连接的PC/笔记本电脑组成）专为测量擦拭（涂抹）样品、蒸发样品和空气过滤器而设计。
该系统可配置多种探测器以满足特定应用需求，包括：α、β、γ、α/β等探测器。
技术参数
- 测量皿直径：** 50 mm (2 in)
